Dyfraktometr rentgenowski do pomiaru naprężeń własnych i zawartości austenitu szczątkowego XSTRESS 3000 G3R STRESSTECH

Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów, Centrum Innowacyjnych Technologii (CIT)

Kierownik Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów: dr inż. Kazimiera Dudek

Opiekun naukowy: dr inż. Kazimiera Dudek

Działalność naukowo – badawcza: Pomiar naprężeń własnych oraz zawartości austenitu szczątkowego w stalach, stopach aluminium oraz stopach tytanu. Badania nieniszczące. Tworzenie profili naprężeń w funkcji głębokości.

Parametry techniczne urządzenia:

• Możliwość wykorzystania urządzenia w warunkach laboratoryjnych, fabrycznych lub terenowych.
• Oprogramowanie: XTronic Stresstech umożliwiające wykonywanie pomiarów, wykonywanie obliczeń, sterowanie pracą systemu, przeprowadzanie zautomatyzowanej kalibracji z wzorcami umożliwiającymi ustawienie do pracy na określonych odległościach.
• Tryby pomiaru d-sin²χ oraz Ω w standardzie.
• Dwa symetrycznie rozmieszczone detektory NMOS.
• Wymienne kolimatory: krótkie i długie o wielkości otworów 1/2/3/4/5 [mm].
• Lampy rentgenowskie: Lampa Cr – maks. moc 30 kV/9 mA/270 W, dodatkowo na wyposażeniu lampa Ti.
• Główna jednostka XStress (generator wysokiego napięcia): Zasilanie RTG 5–30 kV/0–10 mA dowolnie dostosowywalne w zakresie pracy.
• Układ chłodzenia cieczą.

Wyposażenie dodatkowe stanowiska:

• stół laboratoryjny (stół rotacyjny, szyna, czujnik zegarowy).
• elektropolerka Kristall 650.