Tomograf metrologiczny v|tome|xs 240 GE

Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów, Centrum Innowacyjnych Technologii (CIT)

Kierownik Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów: dr inż. Kazimiera Dudek

Opiekun naukowy: dr hab. prof. UR Rafał Reizer

Działalność naukowo – badawcza: Inżynieria odwrotna – tworzenie modelu cyfrowego na podstawie obiektu rzeczywistego. Analiza rentgenowska elementów wykonanych z materiałów o niskiej absorbcji. Analiza 3D elementów wykonanych z materiałów o dużej absorbcji. Analiza defektów wewnętrznych i struktury materiałów. Kontrola połączeń elementów. Metrologia precyzyjna.

Parametry techniczne urządzenia:

• Tomograf metrologiczny v|tome|x s wyposażonym jest w dwie lampy rentgenowskie o mocy: lampa kierunkowa, microfocus - 240kV / 320W oraz lampa transmisyjna, nanofocus – 180kV/15W.
• detektor DXR 1024 x 1024 pikseli, wielkość piksela 200 µm (dodatkowo, dzięki patentowi firmy GE istnieje możliwość dynamicznego rozszerzenia rozdzielczości detektora w osi poziomej do 2048 pikseli);
• wykrywalność szczegółów: ok. 1 um (lampa microfocus), 0.2 um (lampa nanofocus);
• powiększenie detalu:
  39 – 100x (microfocus),
  do 400x (lampa nanofocus);
• najmniejszy rozmiar voxela:
  do 2 um (microfocus),
  do 0.2 um (nanofocus);
• max rozmiar skanowanego detalu: 500 x 275 mm.
• dopuszczalna masa skanowanego detalu: do 10 kg.