Usługi badawcze









Lp. Jed. Dziedzina badań Obiekty
Grupy obiektów
Przedmiot badań (materiał/wyrób) Badana cecha
Zakres wartości
(jeżeli dotyczy)
Metoda badawcza
Przykładowe
badania/usługi
Osoba pierwszego
kontaktu
1 INF emisyjna spektroskopia fourierowska molekuły dwuatomowe
w fazie gazowej
CO, CO+, CH, CD, CH+, CD+ identyfikacja widmowa;  otrzymywanie parametrów fizyko-chemicznych struktury energetycznej fourierowska spektroskopia emisyjna wysokiej rozdzielczości tlenków, wodorków i deuterków węgla oraz ich jonów dodatnich dr hab., prof. UR
Rafał Hakalla
rhakalla@ur.edu.pl
dr hab., prof. UR
Wojciech Szajna wszajna@ur.edu.pl
17-851-8703
2 INF emisyjna spektroskopia fourierowska molekuły dwuatomowe
w fazie gazowej
AlH, AlD, AlH+, AlD+, InH, InD, GaH, GaD identyfikacja widmowa;  otrzymywanie parametrów fizyko-chemicznych struktury energetycznej fourierowska spektroskopia emisyjna wysokiej rozdzielczości wodorków i deuterków wybranych metali grupy IIIA oraz ich jonów dodatnich dr hab., prof. UR Wojciech Szajna
wszajna@ur.edu.pl
17-851-8703
3 INF produkcja aparatury szklanej molekuły dwuatomowe
w fazie gazowej
lampy typu hollow-cathode oraz lampy Geisslera     projektowanie i produkcja lamp wyładowczych do zastosowań w emisyjnej i absorpcyjnej spektroskopii atomowej i molekularnej dr hab., prof. UR
Rafał Hakalla
rhakalla@ur.edu.pl
dr hab., prof. UR
Wojciech Szajna wszajna@ur.edu.pl
17-851-8703
4 INF analiza struktur energetycznych molekuł molekuły dwuatomowe
w fazie gazowej
CO otrzymywanie parametrów oddziaływań wewnątrzmolekularnych globalne analizy deperturbacyjne wielostanowo i rozlegle zaburzonych struktur energetycznych molekuł dwuatomowych dr hab., prof. UR
Rafał Hakalla rhakalla@ur.edu.pl
17-851-8703
5 INF badanie właściwości fizycznych źródeł światła komercyjne źródła światła żarówki, świetlówki, LEDy, halogeny,   zakres i stopień pokrycia widmowego zakresu widzialnego promieniowania elektromagnetycznego analiza widmowa komercyjnych źródeł światła używanych
w publicznych i prywatnych budynkach użyteczności publicznej pod kątem zgodności z przepisami BHP
dr hab., prof. UR
Rafał Hakalla
rhakalla@ur.edu.pl
dr hab., prof. UR
Wojciech Szajna wszajna@ur.edu.pl
17-851-8703
6 INF badania właściwości fizycznych atomy materiały przewodzące analiza składu chemicznego (atomowego) badanego materiału metodą GDOES

analiza składu atomowego folii indowej (In) dr hab., prof. UR
Rafał Hakalla
rhakalla@ur.edu.pl
dr hab., prof. UR
Wojciech Szajna wszajna@ur.edu.pl
17-851-8703
7 INF oscylacyjna spektroskopia fourierowska średniej podczerwieni MIR molekuły wieloatomowe próbki chemiczne, biologiczne, materiały przemysłowe analiza składu chemicznego (molekularnego) badanych próbek; metoda: rejestracja i pomiar widm podczerwonych metodą ATR (Attenuated Total Reflectance) analiza składu molekularnego i chemicznego:
a) próbek biologicznych,
b) proszków z badań archeologicznych,
c) płynów ustrojowych
dr hab., prof. UR
Rafał Hakalla
rhakalla@ur.edu.pl
dr hab., prof. UR
Wojciech Szajna wszajna@ur.edu.pl
17-851-8703
8 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
wyroby, materiały, obiekty budowlane np. cement, gips, rozdrobniony gruz zawartość radioizotopów (gamma)/3 keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów w cemencie dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
9 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
gleba, grunty, skały np. grunty, rozdrobnione skały zawartość radioizotopów (gamma)/3 keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów w glebie dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
10 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
produkty rolne np. rozdrobnione ziarna zbóż zawartość radioizotopów (gamma)/3 keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów
w rozdrobnionych płodach rolnych
dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
11 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
pasze dla zwierząt np. granulaty paszowe, sprasowane pasze zwierzęce zawartość radioizotopów (gamma)/3 keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów w paszach dla zwierząt dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
12 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
osady, odpady np.popiół, osady denne, odpady kopalniane zawartość radioizotopów (gamma)/3 keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów w popiołach dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
13 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
ścieki np. ścieki zawartość radioizotopów (gamma)/3 keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów w ściekach dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
14 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
żywność np. suszone grzyby zawartość radioizotopów (gamma)/3 keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów w grzybach leśnych dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
15 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
woda np. woda z kranu, woda z cieków wodnych, stawów, sadzawek zawartość radioizotopów (gamma)/3 keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów wodzie pitnej dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
16 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
powietrze np. powietrze
w domach i mieszkaniach, piwnicach, jaskiniach, odwiertach
badanie obecności i ciągły monitoring stężenia radonu /10 – 1000 000 Bq/m3 badanie zawartości Radonu
w budynkach mieszkalnych
dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
17 INF badania radiochemiczne
i promieniowania
– w tym nuklearne
obiekty i materiały biologiczne przeznaczone do badań badanie moczu na obecność izotopów promieniotwórczych gamma (skażenie wewnętrzne) zawartość radioizotopów (gamma)/ 3keV – 5 MeV badanie zawartości radionuklidów w moczu osób, u których mogło dojść do wchłonięcia substancji promieniotwórczej dr Izabela Piotrowska
[email protected]
[email protected]
17-851-8739
17-851-8570
18 INF badania chemiczne i strukturalne wyroby chemiczne, materiały nieorganiczne, materiały organiczne, (ciała stałe, proszki, ciecze) np. związki chemiczne, oraz próbki przemysłowe i środowiskowe, biomateriały, minerały, wyroby farmaceutyczne,
w postaci cieczy
(w tym roztworów) lub takie, które można przeprowadzić do tej postaci
badania fizykochemiczne własności optycznych i spektroskopowych  elektrochemicznych cieczy oraz lepkości statycznej i dynamicznej;

identyfikacja materiałów chemicznych, określenie informacji jakościowych o składzie chemicznym i wybranych właściwościach, rozkład substancji chemicznych, określenie  jednolitości i czystości, obecności zanieczyszczeń.
pomiary własności optycznych i spektroskopowych cieczy: (refrakcja, skręcenie płaszczyzny polaryzacji światła, rozpraszanie światła - turbidymetria, widmo absorpcyjne UV-vis). Pomiary elektrochemiczne cieczy (PH, przewodnictwo jonowe, potencjał elektrochemiczny).
Pomiary lepkości statycznej i dynamicznej.
dr Przemysław Kolek
[email protected]
17-851-8699
19 INF badanie sprawności struktur fotowoltaicznych cienkowarstwowe struktury fotowoltaiczne Si/ZnO
ZnO/CuO
TiO2/Cu2O
Pentacene/Si
TiO2:ZnO/CuO:Cu2O
charakteryzacja strukturalna, optyczna i elektryczna wyznaczanie charakterystyk prądowo napięciowych, sprawność, FF, rezystancja kontaktów dr Grzegorz Wisz
[email protected]
17-851-8550
20 INF wytwarzanie cienkich warstw struktury fotowoltaiczne,
struktury półprzewodnikowe,
warstwy tribologiczne,
warstwy hydrofobowe,
warstwy refleksyjne,
filtry widmowe,
powłoki TBC,
powłoki pasywacyjne
Si/ZnO
ZnO/CuO
TiO2/Cu2O
Pentacene/Si
TiO2:ZnO/CuO:Cu2O
DLC
TiN
Si3N4
SiO2
Al2O3
wytwarzanie cienkich warstw z wykorzystaniem rozpylania magnetronowego, termicznego,elektronowego i laserowego w warunkach wysokiej próżni (technologie PVD) dobór i wpływ parametrów wytwarzania na własności strukturalne, optyczne, elektryczne, morfologię, skład dr Grzegorz Wisz
[email protected]
17-851-8550
21 INF badania właściwości fizycznych materiały laserowe
i optoelektroniczne, szkła, i inne ciała stałe
YAlO3, Y3Al5O12, Gd3Ga5O12 i inne, w tym szkła charakteryzacja optyczna widma transmisji, absorpcji, odbicia, krawędź absorpcji, szerokość optycznej przerwy wzbronionej, pasma absorpcji, wpływ wygrzewania na własności optyczne dr Piotr Potera
[email protected]
17-851-8735
22 INF badania właściwości fizycznych cienkie warstwy TiO2, Cu2O, CdTe i inne na różnych podłożach przeźroczystych (m.in. szkło, kwarc, szafir) charakteryzacja optyczna widma transmisji, absorpcji, odbicia, krawędź absorpcji, szerokość optycznej przerwy wzbronionej, pasma absorpcji, wpływ wygrzewania na własności optyczne, współczynnik załamania i grubość warstw metodą interferencji Swanepoel'a dr Piotr Potera
[email protected]
17-851-8735
23 INF badania właściwości fizycznych ciecze ciecze różnego rodzaju, w tym roztwory barwników charakteryzacja optyczna widma transmisji, absorpcji, pasma absorpcji dr Piotr Potera
[email protected]
17-851-8735
24 INF badania właściwości fizycznych proszki różnego rodzaju materiały w postaci proszków np. Al2O3 charakteryzacja optyczna widma odbicia dyfuzyjnego (sfera całkująca) dr Piotr Potera
[email protected]
17-851-8735
25 INF badania struktury materiałów powłoki i warstwy, materiały inżynierskie, nanoproszki powłoki metaliczne, ceramiczne, polimerowe i kompozytowe, nanocząstki (zwłaszcza typu corshells), nanokompozyty transmisyjna Mikroskopia Elektronowa HRTEM z FFT, HRSTEM z FFT, SAED, EDS
w nanoobszarach.

1. analiza budowy krystalicznej (określenie składu fazowego)
w nanoobszarach
2. analiza rozmiaru krystalitów, granicy międzyfazowej nanokrystalitów
3. analiza budowy powłoki lub warstwy w skali nanometrycznej
4. analiza grubości powłok, warstw
5. analiza składu chemicznego
w nanoobszarach jakościowa i ilościowa (mapy rozkład pierwiastków, analiza liniowa, punktowa w nanoobszarach)
  dr hab., prof. UR
Andrzej Dziedzic
[email protected]
17-851-8730
26 INF badania struktury materiałów materiały inżynierskie, kompozyty, powłoki i warstwy oraz proszki o rozmiarach mikrometrycznych metale i stopy metali, ceramika, polimery, warstwy nawęglane, azotowane,  proszki metaliczne i ceramiczne skaningowa Mikroskopia Elektronowa SEM z EDS w mikroobszarach (detektor SE, BSE).

1. określanie morfologii powierzchni powłok, warstw, proszków w skali mikrometrycznej
2. analiza grubości powłok, warstw w skali mikrometrycznej 3. analiza składu chemicznego
w mikroobszarach jakościowa i ilościowa (mapy rozkład pierwiastków, analiza liniowa, punktowa w mikroobszarach)
4. analiza wad budowy wyrobów w sakli mikrometrycznej
  dr hab., prof. UR
Andrzej Dziedzic
[email protected]
17-851-8730
27 INF

przygotowanie preparatów do badań za pomocą elektronowej mikroskopii
transmisyjnej

materiały inżynierskie, kompozyty   mikroskopia jonowa FIB
przygotowanie preparatów (cienkich filmów) do badań za pomocą Transmisyjnej Mikroskopii Elektronowej
  dr hab., prof. UR
Andrzej Dziedzic
[email protected]
17-851-8730
28 INF modelowanie komputerowe zjawiska fizyczne procesy produkcyjne, zjawiska fizyczne, jednostki chorobowe modelowanie Matlab modelowanie hemodializy, modelowanie białaczki dr hab., prof. UR
Paweł Jakubczyk
[email protected]
17-851-8762
29 INF badania fizyczne materiały organiczne i nieorganiczne wykrywanie metali ciężkich wyznaczanie zawartości metali ciężkich w próbkach
z dokładnością do  ppm/ppb
(w zależności od metalu),  metoda badawcza: absorpcja atomowa
wyznaczanie zawartości ołowiu w próbkach roślinnych dr hab., prof. UR
Andrzej Wal
[email protected]
17-851-8605
30 INF badania fizyczne powłoki na materiałach metale identyfikacja grubości i składu metodą nieniszczącą EDXRF wyznaczanie grubości warstw w zakresie do mikrometra, wyznaczanie składu warstw (max. rozmiary próbki:  gr. x  szer.  x wys. 2 cm x 20 cm x 27 cm) dr hab., prof. UR
Andrzej Wal
[email protected]
17-851-8605
31 INF badania właściwości fizycznych materiały i elementy elektroniczne kryształy, cienkie warstwy, struktury półprzewodnikowe charakteryzacja elektryczna pomiary niskoczęstotliwościowych szumów elektrycznych dr Mariusz Bester
[email protected]
605 883 874
32 INF badania właściwości fizycznych urządzenia elektryczne i elektroniczne urządzenia elektryczne i elektroniczne pomiary PEM pomiary pola bliskiego oraz pomiary PEM w środowisku wewnętrznym i zewnętrznym dr Mariusz Bester
[email protected]
605 883 874
33 INF badania właściwości fizycznych własność przestrzeni pod kątem PEM wpływ PEM na obiekty biologiczne pochłanianie promieniowania elektromagnetycznego przez tkanki biologiczne pomiary współczynnika SAR dr Mariusz Bester
[email protected]
605 883 874
34 INF badania właściwości fizycznych materiały przewodzące półprzewodniki metale, tkanki i małe obiekty biologiczne obrazowanie SEM i skład chemiczny EDS morfologia powierzchni SEM i skład chemiczny detektorem EDS dr Mariusz Bester
[email protected]
605 883 874
35 INF badania właściwości fizycznych struktury półprzewodnikowe HgCdTe/GaAs
HgCdTe/Si
wykonywanie obliczeń na podstawie macierzy przewodnictwa elektrycznego w funkcji pola magnetycznego
w zakresie słabych stałych pól magnetycznych od 0,01T do 1T (klasyczny efekt Halla, metoda van der Pauw,  temp.77-300K); wyznaczanie parametrów transportu  elektronowego na podstawie dyskretnego widma ruchliwości (DMSA)
parametry nośników prądu, wyznaczanie grubości złącza p-n wykonanego metodą trawienia jonowego, starzenie materiału półprzewodnikowego dr hab., prof. UR
Małgorzata Pociask-Biały
[email protected]
17-851-8570
36 INF badania właściwości fizycznych szkło budowlane, szkło solarne pokrycia ochronne dla PV wyznaczanie transmisyjności materiałów przezroczystych metodą elektryczną za pomocą symulatora promieniowania słonecznego wyznaczanie transmisyjności, absorpcji, odbicia metodą elektryczną z zastosowaniem symulatora promieniowania słonecznego dr hab., prof. UR
Małgorzata Pociask-Biały
[email protected]
17-851-8570
37 INF badania właściwości fizycznych materiały termoizolacyjne polietylen, polistyren, piana PUR, drewno, ceramika budowlana, szkło budowlane, maty podłogowe termoizolacyjne, skalna wełna mineralna charakterystyka parametrów termoizolacyjnych: współczynnika przewodności cieplnej, oporu cieplnego, przenikania ciepła wyznaczanie oporu cieplnego metodą termokonwersji promieniowania elektromagnetycznego dr hab., prof. UR
Małgorzata Pociask-Biały
[email protected]
17-851-8570
38 INF badania właściwości fizycznych energooszczędne źródła światła charakterystyki widmowe i oświetleniowe widmo odbicia promieniowania elektromagnetycznego
w zakresie widzialnym, spektrometr ze sferą całkującą, 300nm-900nm.
badanie zakresu widmowego w którym pracuje źródło światła dr hab., prof. UR
Małgorzata Pociask-Biały
[email protected]
17-851-8570
39 INF wielkoskalowe modelowanie komputerowe struktury półprzewodnikowe struktury azotkowe (GaN/InN, GaN/AlN, diament/BN, diament/AlN, SiC/GaN), półprzewodniki obliczenia ab initio modelowanie procesów adsorpcji, obliczenia struktur pasmowych materiałów, obliczanie pól elektrycznych na złączach półprzewodnikowych dr hab., prof. UR
Małgorzata Sznajder
[email protected]
17-851-8612
40 INF badania akustyczne i wibracyjne (A/V), badania właściwości fizycznych wyroby okiennicze; przegrody akustyczne okna, przegrody; prostokątne
i kołowe; układy
z dwoma lub trzema szybami
izolacyjność akustyczna / obliczenia numeryczne współczynnika transmisji (możliwe pomiary w komorze semibezechowej ciśnienia akustycznego po obu stronach okna) badanie tłumienia fal akustycznych (hałas) przenoszonych na drugą stronę okna lub przegrody prof. dr hab. inż.
Wojciech Rdzanek wprdzank@ur.edu.pl
17-851-8577
41 INF badania akustyczne i wibracyjne (A/V), badania właściwości fizycznych tłumiki przemysłowe akustyczne tłumiki przemysłowe akustyczne kołowe, pierścieniowe, prostokątne poziom ciśnienia akustycznego fal transmitowanych na drugą stronę tłumika / obliczenia numeryczne współczynnika transmisji (możliwe pomiary
w komorze semibezechowej ciśnienia akustycznego po obu stronach tłumika)
badanie tłumienia fal akustycznych (hałas) przenoszonych na drugą stronę tłumika prof. dr hab. inż.
Wojciech Rdzanek wprdzank@ur.edu.pl
17-851-8577
42 INF badania teoretyczne rozkładu pola akustycznego w zamkniętych pomieszczeniach, wnękach lub falowodach akustyka pomieszczeń, falowody zamknięte pomieszczenia, falowody lub otwarte wnęki wyznaczanie rozkładu ciśnienia akustycznego lub wektora natężenia pola akustycznego. Obliczanie mocy akustycznej emitowanej przez źródło powierzchniowe umieszczone na jednej ze ścian badanego obszaru. rozkład ciśnienia akustycznego generowanego przez źródło punktowe we wnętrzu prostopadłościennego pomieszczenia. prof. dr hab. inż.
Wojciech Rdzanek wprdzank@ur.edu.pl
17-851-8577
43 CMiN badania właściwości fizycznych struktury półprzewodnikowe SL AlSb/GaSb
SL InAs/AlSb
SL InAs/GaSb
QWIP GaAs/InGaAs
QWIP GaAs/AlGaAs
charakteryzacja strukturalna, optyczna i elektryczna krawędź absorpcji, wydajność kwantowa, parametry nośników prądu, grubość warstw, jakość krystaliczna warstw, jakość powierzchni dr Michał Marchewka
[email protected]
17-851-8671
44 CMiN badania właściwości fizycznych struktury półprzewodnikowe HgCdTe,
HgTe,
CdTe/GaAs
ZnTe/GaAs
charakteryzacja strukturalna, optyczna i elektryczna krawędź absorpcji, wydajność kwantowa, parametry nośników prądu, grubość warstw, jakość krystaliczna warstw, jakość powierzchni dr Michał Marchewka
[email protected]
17-851-8671
45 CMiN badania właściwości fizycznych szkło i ceramika,  gleba, grunty, skały, drewno, tekstylia i skóra, wyroby inne powłoki, materiały półprzewodnikowe, materiały o niskiej wilgotności, materiały niegazujące obrazowanie w trybie wysokiej próżni   dr Dariusz Płoch
[email protected]
17-851-8677
46 CMiN badania właściwości fizycznych szkło i ceramika,  gleba, grunty, skały, drewno, tekstylia i skóra, wyroby inne powłoki, materiały półprzewodnikowe, materiały o niskiej wilgotności, materiały niegazujące badanie za pomocą detektora EDX   dr Dariusz Płoch
[email protected]
17-851-8677
47 CMiN badania własności strukturalnych struktury półprzewodnikowe powłoki, heterostruktury półprzewodnikowe, cienkie warstwy określenie grubości warstw, składu chemicznego oraz badania jakości krystalicznej próbki parametry cienkich warstw półprzewodnikowych, skład chemiczny, grubość warstw, jakość krystaliczna dr inż. Małgorzata Trzyna-Sowa
[email protected]
17-851-8682
48 CMiN badania własności strukturalnych, badania chemiczne - badania składu, analiza składu powierzchni materiały nieorganiczne - ciało stałe, proszki np. metale, półprzewodniki, zw. chemiczne analiza składu
zakres: (0,0 – 1) mm
Static SIMS, Dynamic SIMS
  dr inż. Małgorzata Trzyna-Sowa
[email protected]
17-851-8682
49 CMiN badania własności strukturalnych - badania składu w funkcji głębokości materiały nieorganiczne - ciało stałe np. metale, stopy specjalne, minerały, półprzewodniki, zw. chemiczne, materiały poddawane procesom technologicznym, implantowane, domieszki
w materiałach
rozkład pierwiastków w funkcji głębokości
zakres: (0,0 – 1) mm
Dynamic SIMS
  dr inż. Małgorzata Trzyna-Sowa
[email protected]
17-851-8682
50 CMiN badania własności strukturalnych , badania chemiczne- analiza składu i grubości powłok powłoki na materiałach
szeroko rozumiane powłoki ochronne, warstwy tlenkowe na powierzchni utlenionych materiałów itp.
zawartość lotnych związków organicznych (VOC),
zakres: 0,1% i powyżej,
metoda chromatografii gazowej (GC-FID)
  dr Renata
Wojnarowska-Nowak rwojnarowska@ur.edu.pl
17-851-8676
51 CMiN badania elektryczne i elektroniczne, badania właściwości fizycznych wyroby i wyposażenie elektryczne,  wyroby inne próbki objętościowe oraz  cienkowarstwowe metali oraz półprzewodników rezystywność
zakres: 10-4 - 107 (Ohm*cm)
metoda van der Pauw  (temp.  80-350K)
  mgr Paweł Śliż psliz@ur.edu.pl
17-851-8678
52 CMiN badania elektryczne i elektroniczne,
badania właściwości fizycznych
wyroby i wyposażenie elektryczne,  wyroby inne próbki objętościowe oraz  cienkowarstwowe metali oraz półprzewodników koncentracja nośników:
Zakres: 107 -1021 (cm-3)
Metoda van der Pauw  (temp.  80-350K)
  mgr Paweł Śliż psliz@ur.edu.pl
17-851-8678
53 CMiN badania elektryczne i elektroniczne,
badania właściwości fizycznych
wyroby i wyposażenie elektryczne,  wyroby inne próbki objętościowe oraz  cienkowarstwowe metali oraz półprzewodników ruchliwość nośników:
zakres: 1 -  107 (cm2/V*s)
metoda van der Pauw  (temp.  80-350K)
  mgr Paweł Śliż psliz@ur.edu.pl
17-851-8678
54 CMiN badania elektryczne i elektroniczne,
badania właściwości fizycznych
wyroby i wyposażenie elektryczne,  wyroby inne próbki objętościowe oraz  cienkowarstwowe metali oraz półprzewodników opór elektryczny w funkcji pola magnetycznego (magnetoopór):
zakres: 10-3 -107 (Ohm), -14..14 T
metoda stałoprądowa (temp. 0,3-350K)
  mgr Paweł Śliż psliz@ur.edu.pl
17-851-8678
55 CMiN badania właściwości fizycznych szkło i ceramika,  gleba, grunty, skały, drewno, tekstylia i skóra, wyroby inne powłoki, struktury litograficzne, mikroelektronika, metale, tworzywa sztuczne, optyka profil, chropowatość   mgr inż.
Piotr Krzemiński
[email protected]
17-851-8683
56 CMiN badania biologiczne i biochemiczne obiekty i materiały biologiczne, materiały organiczne, (ciała stałe, proszki, ciecze) materiały biologiczne, komórki, tkanki, mikroorganizmy, wyizolowane składniki komórek, białka, kwasy nukleinowe identyfikacja składu chemicznego na podstawie analizy rejestrowanych widm spektralnych, identyfikacja badanego obiektu, różnicowanie obiektów, rozkład substancji chemicznych,
zakres:  100 - 4000 cm-1  (100 µm do 2,5 µm), pomiar w punkcie, mapowanie próbki, pomiar
w gradiencie głębokości
  dr Renata
Wojnarowska-Nowak rwojnarowska@ur.edu.pl
17-851-86766
57 CMiN badania mikrobiologiczne obiekty i materiały biologiczne, materiały organiczne, (ciała stałe, proszki, ciecze) mikroorganizmy, materiały chemiczne identyfikacja składu chemicznego na podstawie analizy rejestrowanych widm spektralnych, identyfikacja badanego obiektu, różnicowanie obiektów, rozkład substancji chemicznych, zakres:  100 - 4000 cm-1  (100 µm do 2,5 µm), pomiar w punkcie, mapowanie próbki   dr Renata
Wojnarowska-Nowak rwojnarowska@ur.edu.pl
17-851-8676
58 CMiN badania chemiczne i strukturalne wyroby chemiczne, materiały nieorganiczne, materiały organiczne, (ciała stałe, proszki, ciecze) np. związki chemiczne, polimery, szkła, ceramika, półprzewodniki, materiały węglowe, nanomateriały, biomateriały, minerały, wyroby farmaceutyczne, dzieła sztuki i obiekty archeologiczne identyfikacja materiałów chemicznych, określenie informacji jakościowych o składzie chemicznym i wybranych właściwościach, rozkład substancji chemicznych, określenie  jednolitości i czystości, obecności wtrąceń i zanieczyszczeń. Zakres:  100 - 4000 cm-1  (100 µm do 2,5 µm. Pomiar w punkcie, mapowanie próbki, pomiar w gradiencie głębokości   dr Renata
Wojnarowska-Nowak rwojnarowska@ur.edu.pl
17-851-8676
59 CMiN badania w dziedzinie elektroniki wyroby i wyposażenie elektryczne,  wyroby inne półprzewodniki, nadprzewodniki identyfikacja składu chemicznego  i politypu, obecności naprężeń, domieszek, rodzaj i orientacja struktury kryształu,jakość kryształu, jednolitość i czystość, Zakres:  100 - 4000 cm-1  (100 µm do 2,5 µm, pomiar w punkcie, mapowanie próbki, pomiar w gradiencie głębokości   dr Renata
Wojnarowska-Nowak rwojnarowska@ur.edu.pl
17-851-8676
60 II informatyka techniczna i telekomunikacja obiekty statyczne o nieznanych rozmiarach znajdujące się w scenerii 3D bezinwazyjny pomiar kształtu powierzchni  obiektu 3D kształt obiektu stanowiącego przedmiot badań pomiary scenerii 3D skanerem światła spójnego w objętościach 0.5m-120m dr Zbigniew Gomółka zgomolka@ur.edu.pl 17-851-8755
61 II informatyka techniczna i telekomunikacja system percepcji wizualnej człowieka rejestracja i analiza czasoprzestrzennej trajektorii atencji operatorów urządzeń rejestracja w czasie i przestrzeni fiksacji oraz atencji obserwatora w wybranych systemach wykorzystujących aktywność atencji obserwatora śledzenie ruchu gałek ocznych pacjentów (psychologia, psychiatria), badanie rynku i zachowań konsumentów, interakcja człowiek komputer dr Zbigniew Gomółka zgomolka@ur.edu.pl 17-851-8755
62 II informatyka techniczna i telekomunikacja ośrodkowy układ nerwowy człowieka aktywność mózgowa EEG towarzysząca procesom myślowym człowieka rejestracja w czasie i przestrzeni aktywności elektroencefalograficznej mózgu człowieka podczas wykonywania przez niego określonych zadań pomiary aktywności mózgowej EEG 32- kanałowym zestawem BrainProduct wykorzystując technikę pomiaru na mokro dr Zbigniew Gomółka zgomolka@ur.edu.pl 17-851-8755
63 II informatyka techniczna i telekomunikacja zjawiska szybkozmienne rejestrowanie i analiza zjawisk szybkozmiennych metody pomiaru i analizy zjawisk szybkozmiennych towarzyszących kluczowym procesom produkcyjnym zapewniając wysoką jakość wytwarzania pomiary ultraszybkich zjawisk w skali gray level kamerą PHANTOM MIRO M310 z przepustowością 3,2 gigapiksela/s dr inż. Bogusław Twaróg
[email protected]
17-851-8755
64 II informatyka techniczna i telekomunikacja obiekty użyteczności publicznej, obiekty energetyczne, urządzenia mechaniczne, istoty żywe bezinwazyjne wykrywanie wad technologicznych i konstrukcyjnych, diagnostyka medyczna wykrywanie w budynkach mostków cieplnych, wykrywanie zagrożeń
w rozdzielniach napięć, ocena pracy urządzeń mechanicznych
pomiary termowizyjne scen termicznych w rozdzielczości VGA 30 fps, w zakresach -40-650stC, czułość termiczna < 0.04stC dr inż. Bogusław Twaróg
[email protected]
17-851-8755
65 II informatyka techniczna i telekomunikacja części składowe maszyn produkcyjnych, rzeźbiarskie arcydzieła, istoty żywe, obiekty archeologiczne szybkie i precyzyjne odwzorowania obiektów 3D w procesie skanowania metodą światła strukturyzowanego, szybkie prototypowanie opracowania modeli 3D obiektów mechanicznych, odwzorowanie przedmiotów artystycznych,
kontrola jakości detali, kompletowanie brakującej dokumentacji technicznej, prototypowanie elementów układu kostnego człowieka
bezdotykowy i bezinwazyjny pomiar kształtu obiektów 3D metodą światła strukturyzowanego, w objętościach pomiarowych: 30x40x25,5cm oraz 60x80x40cm z dokładnością ±20μm dr Zbigniew Gomółka zgomolka@ur.edu.pl 17-851-8755
66 II informatyka techniczna i telekomunikacja automatyzacja maszyn
i linii technologicznych
algorytmizacja procesów produkcyjnych, wizualizacja rozproszonych systemów automatyki przemysłowej inteligentne sterowanie budynkami, zwiększenie bezpieczeństwa technologicznego, optymalizacja linii technologicznych ekspertyzy i projektowanie przemysłowych układów sterowania z wykorzystaniem sterowników PLC, linie technologiczne, procesy wsadowe dr inż. Bogusław Twaróg
[email protected]
17-851-8755
67 II informatyka techniczna i telekomunikacja dyskretny proces produkcyjny inteligentne metody optymalizujące proces szeregowania zadań wykorzystujące algebraiczno-logiczny opis procesu produkcyjnego konstruowanie i rozwijanie inteligentnych algorytmów wykorzystujących algebraiczno-logiczny opis zjawisk i procesów w celu ich dynamicznej optymalizacji ekspertyzy, modelowanie i analiza symulacyjna systemów dyskretnych, w szczególności dyskretnych systemów produkcyjnych dr Zbigniew Gomółka zgomolka@ur.edu.pl 17-851-8755
68 II optymalizacja pracy maszyn CNC
w otoczeniu produkcyjnym
obrabiarki CNC i sterowniki numeryczne algorytmy optymalizujące pracę maszyn CNC metody doboru maksymalnej prędkości posuwu przy
zachowaniu zadanej tolerancji błędów konturu
optymalizacja pracy obrabiarek sterowanych numerycznie (CNC) w zakresie czasu pracy oraz jakości wykonywanych komponentów; szkolenia pracowników obsługujących obrabiarki w aspekcie transferu uzyskanych rozwiązań naukowych do technologii dr hab., prof. UR
Barbara Pękala
[email protected]
17-851-8595
69 II sztuczna inteligencja,
eksploracja danych
zbiory danych dot. klientów, produktów, pracowników, pacjentów
transakcji itd.
metody eksploracji danych oraz ich implementacje szerokie spektrum metod eksploracji danych, w tym metod dla dużych danych

optymalizacja funkcjonowania przedsiębiorstwa poprzez ulepszanie usług i procesów lub dostosowanie oferty usług do klientów, w tym: efektywna sprzedaż nowych usług, przewidywanie możliwości rezygnacji z usług przez klienta, analiza koszyka usług, zakupów lub transakcji, ocena ryzyka kredytowego, detekcja oszustw, podział rynku (klientów) na grupy wymagające zróżnicowanego podejścia marketingowego i inne.

dr hab., prof. UR
Jan G. Bazan
[email protected]
17-851-8516
70 II statystyka dane statystyczne
z różnych dziedzin życia
kompleksowa analiza statystyczna danych wraz z modelowaniem wszystkie rodzaje cech statystycznych kompleksowa analiza statystyczna danych wraz z modelowaniem, np. podstawowa analiza danych wraz z wnioskowaniem statystycznym, analiza zmian dynamiki zjawiska wraz w wyznaczaniem trendu i prognozowaniem, kompleksowa analiza regresji liniowej i nieliniowej, analiza PCA, analiza kanoniczna, analiza dyskryminacyjna, analiza skupień, analiza korespondencji, analiza przeżycia dr Lech Zaręba
[email protected] 17-851-8708
71 II analiza ryzyka dane związane z ryzykiem modelowanie i analiza ryzyka w oparciu o dane dane istotne do modelowania ryzyka kompleksowa analiza ryzyka
(w tym ryzyka finansowego),
np. pomiar i analiza ryzyka operacyjnego metody BIA, TSA i AMA, pomiar i analiza ryzyka kredytowego i rynkowego, pomiar i analiza ryzyka w wykorzystaniem macierzy ryzyka oraz metody FMEA
dr Lech Zaręba
[email protected] 17-851-8708
72 LiW badania właściwości mechanicznych materiały materiały metalowe; tworzywa sztuczne badania wytrzymałościowe, badanie twardości, badanie właściwości tribologicznych badania statyczne na rozciąganie, badania udarności, badania twardości i mikrotwardości, badania tribologiczne dr hab. prof. UR
Rafał Reizer
[email protected]
17-851-8582
73 LiW badania właściwości chemicznych materiały materiały metalowe badanie składu chemicznego materiału badania spektrometryczne dr hab. prof. UR
Rafał Reizer
[email protected]
17-851-8582
74 LiW metrologia warstwy wierzchniej materiały, części maszyn i urządzeń materiały metalowe, tworzywa sztuczne, ceramika pomiar i analiza struktury geometrycznej powierzchni pomiar i analiza profilu chropowatości powierzchni; wyznaczanie parametrów chropowatości (falistości) profilu zgodnie z ISO 4287; pomiar i analiza topografii powierzchni; wyznaczanie parametrów topografii powierzchni zgodnie z ISO 25178 -2; oraz ISO 13565-2 i -3 dr hab. prof. UR
Rafał Reizer
[email protected]
17-851-8582
75 IIM badania właściwości magnetycznych struktury półprzewodnikowe ZnO z domieszkami magnetycznymi struktura elektronowa badania metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego dr hab., prof. UR Ireneusz Stefaniuk istefaniuk@ur.edu.pl
17-851-8672
76 IIM badania właściwości fizycznych struktury półprzewodnikowe HgCdTe,
HgTe,
CdTe/GaAs
ZnTe/GaAs    z domieszkami
struktura elektronowa, oddziaływania magnetyczne badania metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego dr hab., prof. UR Ireneusz Stefaniuk istefaniuk@ur.edu.pl
17-851-8672
77 IIM badania właściwości fizycznych szkło i ceramika,  gleba, grunty, skały,  wyroby inne warstwy, materiały ceramiczne, materiały o niskiej wilgotności analiza składu (XRD), analiza defektów, analiza zanieczyszczeń badania metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego,  badania dyfrakcji rentgenowskiej XRD dr hab., prof. UR Ireneusz Stefaniuk istefaniuk@ur.edu.pl
17-851-8672
78 IIM badania właściwości chemicznych wyroby chemiczne, wyroby farmaceutyczne, żywność materiały o niskiej wilgotności badania wolnych rodników badania metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego dr hab., prof. UR Ireneusz Stefaniuk istefaniuk@ur.edu.pl
17-851-8672
79 IIM badania własności strukturalnych kryształy, cienkie warstwy warstwy, struktury półprzewodnikowe,  centra paramagnetyczne, kryształy laserowe analiza otoczenia centrów paramagnetycznych, określanie składu fazowego badania metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego,  badania dyfrakcji rentgenowskiej XRD dr hab., prof. UR Ireneusz Stefaniuk istefaniuk@ur.edu.pl
17-851-8672
80 IIM badania własności strukturalnych, badania chemiczne - badania składu, materiały nieorganiczne - ciało stałe, proszki (12,17) np. ceramika, półprzewodniki, zw. chemiczne analiza otoczenia centrów paramagnetycznych, określanie składu fazowego, analiza zanieczyszczeń badania metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego,  badania dyfrakcji rentgenowskiej XRD dr hab., prof. UR Ireneusz Stefaniuk istefaniuk@ur.edu.pl
17-851-8672
81 IIM badania biologiczne i biochemiczne obiekty i materiały biologiczne, materiały organiczne, (ciała stałe, proszki, ciecze) wolne rodniki identyfikacja rodzaju  i poziomu wolnych rodników, pułapkowanie wolnych rodników badania metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego dr hab., prof. UR Ireneusz Stefaniuk istefaniuk@ur.edu.pl
17-851-8672
82 IIM badania biologiczne i biochemiczne obiekty i materiały biologiczne, materiały organiczne, (ciała stałe, proszki, ciecze) wolne rodniki pułapkowanie wolnych rodników, badania zdolności antyoksydacyjnych badania metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego dr hab., prof. UR Ireneusz Stefaniuk istefaniuk@ur.edu.pl
17-851-8672

LEGENDA:

INF - Instytut Nauk Fizycznych
CMIN - Centrum Dydaktyczno-Naukowe Mikroelektroniki i Nanotechnologii
II - Instytut Informatyki
LiW - Centrum Innowacji i Transferu Wiedzy Techniczno-Przyrodniczej (Laboratorium Inżynierii Wytwarzania)
IIM - Instytut Inżynierii Materiałowej