Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów - Urządzenia i aparatura pomiarowa

⇒ Dyfraktometr rentgenowski do pomiaru naprężeń własnych i zawartości austenitu szczątkowego XSTRESS 3000 G3R STRESSTECH

Nr inwentarzowy UR: 36627; wartość stanowiska: 835 526,08 zł

Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów, Centrum Innowacyjnych Technologii (CIT)

Kierownik Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów: dr inż. Kazimiera Dudek

Opiekun naukowy: dr inż. Kazimiera Dudek

Działalność naukowo – badawcza: Pomiar naprężeń własnych oraz zawartości austenitu szczątkowego w stalach, stopach aluminium oraz stopach tytanu. Badania nieniszczące. Tworzenie profili naprężeń w funkcji głębokości.

Parametry techniczne urządzenia:

• Możliwość wykorzystania urządzenia w warunkach laboratoryjnych, fabrycznych lub terenowych.
• Oprogramowanie: XTronic Stresstech umożliwiające wykonywanie pomiarów, wykonywanie obliczeń, sterowanie pracą systemu, przeprowadzanie zautomatyzowanej kalibracji z wzorcami umożliwiającymi ustawienie do pracy na określonych odległościach.
• Tryby pomiaru d-sin²χ oraz Ω w standardzie.
• Dwa symetrycznie rozmieszczone detektory NMOS.
• Wymienne kolimatory: krótkie i długie o wielkości otworów 1/2/3/4/5 [mm].
• Lampy rentgenowskie: Lampa Cr – maks. moc 30 kV/9 mA/270 W, dodatkowo na wyposażeniu lampa Ti.
• Główna jednostka XStress (generator wysokiego napięcia): Zasilanie RTG 5–30 kV/0–10 mA dowolnie dostosowywalne w zakresie pracy.
• Układ chłodzenia cieczą.

Wyposażenie dodatkowe stanowiska:

• stół laboratoryjny (stół rotacyjny, szyna, czujnik zegarowy).
• elektropolerka Kristall 650.

⇒ Kamera termowizyjna FLIR SC7600

Nr inwentarzowy UR: 36647; wartość stanowiska: 284 739,00 zł.

Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów, Centrum Innowacyjnych Technologii (CIT)

Kierownik Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów: dr inż. Kazimiera Dudek

Opiekun naukowy: dr inż. Kazimiera Dudek

Działalność naukowo – badawcza: Analiza termograficzna w zakresie temperaturowym od +2°C do 300°C. Dokładność pomiaru 0,02°C. Rejestracja promieniowania w zakresie bliskiej i średniej podczerwieni (1,5 µm do 5,1 µm). Możliwość analizy układów elektrycznych, układów centralnego ogrzewania, zmian i rozkładu temperatur podczas obróbki skrawaniem, ocena strat cieplnych budynków, sprawdzanie poprawności wykonania termoizolacji, a także wyszukiwanie mostków termicznych. Badanie układów mechanicznych pod kątem nadmiernego tarcia.

Parametry techniczne urządzenia:

• Urządzenie przenośne.
• Matryca: InSb 640 x 512 pikseli.
• Zapis w prędkości do 100 fps.
• Oprogramowanie FlirAltair.
• Obiektyw: 50 mm.

⇒ Komora do testów korozyjnych DCTC 1200P z modułem VDA Angelantoni Industrie S.R.L.

Nr inwentarzowy UR: 36643; wartość stanowiska: 157 044,53 zł.

Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów, Centrum Innowacyjnych Technologii (CIT)

Kierownik Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów: dr inż. Kazimiera Dudek

Opiekun naukowy: dr inż. Kazimiera Dudek

Działalność naukowo – badawcza: Badania odporności na korozję części maszyn w oparciu o przyśpieszone badania korozyjne: Test mgły solnej wg PN EN ISO 9227:2012. Test klimatyczny VDA. Test namakania. Suchy test korozyjny. Badania przyczepności metodą siatki nacięć w oparciu o PN-EN ISO 2409:2013. Badania odporności na korozję części maszyn w oparciu o cykliczne testy korozyjne.

Parametry techniczne urządzenia:

• Przestrzeń robocza: 1200 l.
• Zakres temperatur: od temp. otoczenia do +55°C.

Wyposażenie stanowiska:

• Moduł VDA.
• Dejonizator SolPure XIO P UV (ciśnienie: 0,3 – 0,5 MPa; zasilanie: 230 V 50 Hz).

⇒ Multisensorowy system do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni AltiSurf 520 AltiMap

Nr inwentarzowy UR: 36604; wartość stanowiska: 724 470,00 zł.

Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów, CIT

Opiekun naukowy: dr hab. prof. UR Rafał Reizer

Działalność naukowo – badawcza: Ocena i analiza struktury geometrycznej powierzchni (2D i 3D) z wykorzystaniem metod stykowych i bezstykowych, w oparciu o normy: PN-EN ISO 4287, ISO 25178, ISO 13565-2 oraz ISO 13565-3.

Parametry techniczne urządzenia:

Parametry głowic konfokalnych:

Parametry stykowej głowicy indukcyjnej:

Obszar pomiarowy (X, Y, Z) – nieruchoma oś Z, ruchome osie X i Y:

• rozmiar: 200 mm x 200 mm x 200 mm.
• rozdzielczość pozioma: 0,1 µm x 0,1 µm.
• prędkość pomiarowa: 0,1 do 30 mm/s.

⇒ Tomograf metrologiczny v|tome|xs 240 GE

Nr inwentarzowy UR: 36639; wartość stanowiska: 2 398 500,00 zł.

Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów, Centrum Innowacyjnych Technologii (CIT)

Kierownik Laboratorium Badań Materiałów i Wyrobów: dr inż. Kazimiera Dudek

Opiekun naukowy: dr hab. prof. UR Rafał Reizer

Działalność naukowo – badawcza: Inżynieria odwrotna – tworzenie modelu cyfrowego na podstawie obiektu rzeczywistego. Analiza rentgenowska elementów wykonanych z materiałów o niskiej absorbcji. Analiza 3D elementów wykonanych z materiałów o dużej absorbcji. Analiza defektów wewnętrznych i struktury materiałów. Kontrola połączeń elementów. Metrologia precyzyjna.

Parametry techniczne urządzenia:

• Tomograf metrologiczny v|tome|x s wyposażonym jest w dwie lampy rentgenowskie o mocy: lampa kierunkowa, microfocus - 240kV / 320W oraz lampa transmisyjna, nanofocus – 180kV/15W.
• detektor DXR 1024 x 1024 pikseli, wielkość piksela 200 µm (dodatkowo, dzięki patentowi firmy GE istnieje możliwość dynamicznego rozszerzenia rozdzielczości detektora w osi poziomej do 2048 pikseli);
• wykrywalność szczegółów: ok. 1 um (lampa microfocus), 0.2 um (lampa nanofocus);
• powiększenie detalu:
  39 – 100x (microfocus),
  do 400x (lampa nanofocus);
• najmniejszy rozmiar voxela:
  do 2 um (microfocus),
  do 0.2 um (nanofocus);
• max rozmiar skanowanego detalu: 500 x 275 mm.
• dopuszczalna masa skanowanego detalu: do 10 kg.